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分析表征設(shè)備
隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術(shù)的發(fā)展,電子顯微鏡進(jìn)入了一個不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量,而且重視其采集過程的時代
更新時間:2024-11-18
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以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察”為理念,開發(fā)出TM4000系列
更新時間:2024-11-18
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型號:DektakXTDektakXT探針式輪廓儀采用革命性的臺式設(shè)計,可實現(xiàn)4Å(0.4nm)的優(yōu)異重復(fù)性,掃描速度可提高40%
更新時間:2024-11-18
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DimensionFastScan原子力顯微鏡(AFM)系統(tǒng)經(jīng)過專門設(shè)計,在不降低分辨率、不失去力控制、不增加設(shè)備復(fù)雜性,不帶來繁瑣操作的前提下,即可實現(xiàn)快速掃描
更新時間:2024-11-18
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BrukerDimensionlcon”原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的應(yīng)用體驗,具有高水平的性能、功能和配件選擇,其測試功能強(qiáng)大,操作簡便易行
更新時間:2024-11-18
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