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測(cè)試儀表
阻抗分析儀
WK6500系列精密阻抗分析儀

精密阻抗分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 其他 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,綜合 |
WK6500系列精密阻抗分析儀七種機(jī)型:20Hz~5MHz,10MHz,15MHz,20MHz,30MHz, 50MHz和120MHz,符合客戶不同采購(gòu)需求
簡(jiǎn)易的TFT觸屏操作,10分鐘內(nèi)輕易上手
電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測(cè)試解決方案
30ms超高速測(cè)試速度
等效Rdc可高度精準(zhǔn)四線式測(cè)試,量測(cè)到0.01mΩ
0.05%基本精確度
可內(nèi)建0-100mA+/-40V,外加可至60ADCBias
可將測(cè)試波形儲(chǔ)存成CSV格式,放大、縮小及MARKER功能
20Hz~120MHz,七種機(jī)型,可隨時(shí)升級(jí),升級(jí)到120MHz
WK6500系列精密阻抗分析儀測(cè)試參數(shù):
電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電導(dǎo)(G)、電納(B)、電抗(X)、損耗因數(shù)(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)、阻抗(Z)、導(dǎo)納(Y)、相位角(θ)、介電常數(shù)(ε′相對(duì)介電常數(shù)實(shí)部、ε′′r相對(duì)介電常數(shù)虛部、Dε相對(duì)介電損耗)、磁導(dǎo)率(μ′相對(duì)磁導(dǎo)率實(shí)部、μ′′r相對(duì)磁導(dǎo)率虛部、Dμ相對(duì)磁導(dǎo)率損耗)