產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索:
激光粒度分析儀
納米粒度電位儀系列
真空封管機(jī)系統(tǒng)
CHI600E系列通用電化學(xué)工作站
微納3D打印機(jī)
常溫壓電d33測(cè)試儀
磁控離子濺射儀
Energylab XM 電化學(xué)工作站
VersaSCAN微區(qū)掃描電化學(xué)工作站
Bruker Hysitron Tl 980納米壓痕儀
IM4000Ⅱ標(biāo)準(zhǔn)離子研磨儀
CHI760E系列電化學(xué)工作站
GVC-3000熱蒸發(fā)鍍碳儀
材料試驗(yàn)機(jī)
1470 celltest電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)
VibroMet2振動(dòng)拋光機(jī)
當(dāng)前位置:首頁(yè)
產(chǎn)品中心
測(cè)試設(shè)備
聲學(xué)測(cè)試設(shè)備
UMS高級(jí)超聲材料表征系統(tǒng)

UMS高級(jí)超聲材料表征系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
product
產(chǎn)品分類UMS 高級(jí)超聲材料表征系統(tǒng)采用超聲回波分析法以無(wú)損的方式表征各種材料的力學(xué)性能。相對(duì)傳統(tǒng)的試驗(yàn)機(jī)拉伸壓縮試驗(yàn),UMS 制樣更簡(jiǎn)單,操作更方便,測(cè)量精度更高,不破壞樣品。針對(duì)粗晶粒,粉末冶金或3D打印增材制造樣品材料,UMS的脈沖串激勵(lì)和弱信號(hào)局部放大功能,大部分各向同性材料均可輕松測(cè)量。UMS測(cè)試方法符合國(guó)家標(biāo)準(zhǔn):GB/T 38897-2020。
┃ 測(cè)量結(jié)果
縱波聲速,橫波聲速
楊氏模量
體積彈性模量
剪切模量
泊松比
衰減系數(shù)
UMS 提供的局部增益放大功能,可以輕松測(cè)量各種粗晶粒或粉末冶金等高衰減材料。